<th id="ppcon"></th>
      您好,歡迎來到深圳市鴻怡電子有限公司官網
      鴻怡測試座,終身技術支持保修
      當前位置:首頁 » 鴻怡電子產品中心 » 老化測試座 » QFN老化座 » 新能源汽車車規芯片QFN老化測試座_芯片老化座

      新能源汽車車規芯片QFN老化測試座_芯片老化座詳細信息/Detailed Information

      新能源汽車車規芯片QFN老化測試座_芯片老化座

      該QFN產品系列主要應用于新能源汽車車規芯片老化測試用, 適用于電源轉換芯片老化測試、動力分配傳感器芯片老化測試、電源管理芯片老化測試
      訂購熱線:13631538587
      立即咨詢

      新能源汽車EMC芯片老化測試座

      新能源汽車ECU芯片老化測試座

      壓力傳感器老化測試座

      車規芯片壓力老化測試座

      車規芯片QFN封裝測試座

      采購:新能源汽車車規芯片QFN老化測試座_芯片老化座

      • *聯系人:
      • *手機:
      • 公司名稱:
      • 郵箱:
      • 您是從哪里找到我們的:
      • *采購意向:
      • *驗證碼:驗證碼

      跟此產品相關的產品 / Related Products

      屏幕測試治具_攝像頭測試微針模組整體
      屏幕測試治具_攝像頭測試微針模組整體
      適用產品類型: ZIF,BTB connector公母頭,PCB,FPC 適用pitch:0.35mm,0.4mm 連續壓接成功率: 99.5% 適用壽命: 300000次 彈片阻抗: <50mΩ 彈片過流能力: 1~3A 使用溫度: -55°C~+175°C
      定制燒錄測試座 QFN28測試夾具 QFN28老化測試座 QFN28燒錄座0.4
      定制燒錄測試座 QFN28測試夾具 QFN28老化測試座 QFN28燒錄座0.4
      型號: QFN28-0.4
      品牌: HMILU
      產地: 中國大陸
      顏色分類: 來圖定制
      適用場景: 燒錄,編程,老化,測試
      封裝方式: QFN
      引腳間距: 0.4mm
      總尺寸 (含引腳): 4x4x1mm
      主體尺寸: 4x4x1mm
      引腳數: 28個
      測試座類型: 頂窗按壓式
      QFN64-0.5翻蓋彈片IC測試座
      QFN64-0.5翻蓋彈片IC測試座
      產品用途:編程座、測試座,對QFN64的IC芯片進行燒寫、測試
      適用封裝:QFN64-0.5
      測 試 座:QFN64-0.5燒錄座
      特 點:底部引出引腳為不規則排列

      相關資訊

      鴻怡產品中心Products

      聯系鴻怡電子

      咨詢熱線13632719880
      • 座機:0755-83587595
      • 郵箱:liu@hydz999.com
      • 傳真:0755-23287415
      • 地址:深圳華強北中電B座三樓3010C

      亚洲色怡人网站 <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <文本链> <文本链> <文本链> <文本链> <文本链> <文本链>