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      LPDDR4X bga200翻蓋探針測試座 BGA200測試夾具詳細信息/Detailed Information

      LPDDR4X bga200翻蓋探針測試座 BGA200測試夾具

      型號: LPDDR-BGA200球
      品牌: HMILU
      產地: 中國大陸
      適用場景: 測試,燒錄,編程,老化
      封裝方式: BGA
      引腳間距: 0.8mm
      本體尺寸 : 10x14.5mm
      引腳數: 200個
      測試座類型: 翻蓋式/翻蓋旋鈕式
      訂購熱線:13631538587
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      型號: LPDDR-BGA200球
      品牌: HMILU
      產地: 中國大陸
      適用場景: 測試,燒錄,編程,老化
      封裝方式: BGA
      引腳間距: 0.8mm
      本體尺寸 : 10x14.5mm
      引腳數: 200個
      測試座類型: 翻蓋式/翻蓋旋鈕式

      產品特點:支持高頻3200Mbps

       采用手動翻蓋/雙扣式結構,操作方便;

       上蓋的IC壓板采用旋壓式結構,下壓平穩,保證IC的壓力均勻,不移位;

       探針的特殊頭形突起能刺破焊接球的氧化層,接觸可靠,而不會損傷錫球;

       高精度的定位槽和導向孔,保證IC定位精確,測試效率高;

       測試頻率可達9.3GHz;

       用途:LPDDR4X芯片功能驗證測試;

       可根據用戶要求定做各種陣列的socket

       有翻蓋式結構和雙扣結構兩種方式可供選擇,操作方便;

       上蓋的IC壓板采用旋壓式結構,下壓平穩,保證IC的壓力均勻,不移位;

       探針的特殊頭形突起能刺破錫球的氧化層,接觸可靠,而不會損傷錫球

       用途:集成電路應用功能驗證測試

       可根據用戶要求定做各種陣列的socket

       

      20年專注,鑄就品牌

      深圳市鴻怡電子有限公司是一家集研發、生產、銷售于一體的技術型高新企業。公司專注研發生產各類應用于芯片功能驗證的IC test socket/fixture、老化座、燒錄座、FPC/BTB測試模組,提供專業的芯片測試老化解決方案。


      GDDR200球測試座3

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