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      下壓式IC老化座_NP506-020-045-SC-G_QFN20-0.4芯片測試座

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      瀏覽:- 發布日期:2021-10-18 14:42:10【
      工廠介紹

      鴻怡電子生產下壓式IC老化座_NP506-020-045-SC-G_QFN20-0.4芯片測試座,同時還生產其他種類齊全的芯片封裝測試座/老化座/燒錄座/測試夾具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等。

      QFN20芯片老化座

      產品簡介

      產品用途:編程座、測試座,對QFN20的IC芯片進行燒寫、測試

      適用封裝:QFN20 引腳間距0.4mm

      測試座:QFN20-0.4

      特點:采用U型頂針,接觸更穩定

      規格尺寸

      型號:QFN-20-0.4

      引腳間距(mm):0.4

      腳位:20

      芯片尺寸:3*3


      QFN芯片測試座

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