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      QFN80-0.4芯片測試座_翻蓋IC老化座_編程座IC549-0604

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      瀏覽:- 發布日期:2021-10-14 10:50:22【
      工廠介紹

      鴻怡電子生產QFN80-0.4芯片測試座_翻蓋IC老化座_編程座IC549-0604,同時還生產其他種類齊全的芯片封裝測試座/老化座/燒錄座/測試夾具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等。

      QFN80編程測試座

      產品簡介

      A、產品用途:編程座、測試座,對QFN60的IC芯片進行燒寫、測試

      B、適用封裝:QFN80引腳間距0.4mm

      C、測試座:QFN80-0.4

      D、特點:采用U型頂針,接觸更穩定

      E、我司可提供規格書(布板圖),PDF檔\CAD

      規格尺寸

      A、型號:QFN-80-0.4

      B、引腳間距(mm):0.4

      C、腳位:80

      D、芯片尺寸:9*9

      QFN80-0.4間距翻蓋IC測試座


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