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      QFN32-0.5芯片測試座_翻蓋彈片老化座_編程座

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      瀏覽:- 發布日期:2021-10-18 11:29:11【
      工廠介紹

      鴻怡電子生產QFN32-0.5芯片測試座_翻蓋彈片老化座_編程座,同時還生產其他種類齊全的芯片封裝測試座/老化座/燒錄座/測試夾具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等。

      QFN32編程測試座

      產品簡介
      產品用途:編程座、測試座,對QFN32的IC芯片進行燒寫、測試
      適用封裝:QFN32引腳間距0.5mm
      測試座:QFN32-0.5
      特點:底部引出引腳為不規則排列


      規格尺寸
      QFN32編程座/測試座適用芯片詳細規格,以及適配座外形尺寸:

      型號:QFN-32-0.5

      引腳間距(mm):0.5

      腳位:32

      芯片尺寸:5*5 

      QFN32芯片測試座



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